la quaLabでは、豊富な経験を持つ人材と最先端の計測機器で各種分析を承っています。
分析がしたい内容をお問い合わせください。
分析例
高速度ビデオカメラによるスプレー時のミスト分析
スプレー噴霧の瞬間を高速度ビデオカメラで撮影した例。ノズルからの噴射瞬間を分析することが可能です。
用途例：塗装噴霧状態解析、インクジェット解析、燃焼噴射解析 等
使用機器：フォトロン社高速度ビデオカメラ FASTCAM Mini AX200
電子顕微鏡（SEM）による異物検査
電子顕微鏡を用いて基板上の異物を検査をしています。電子顕微鏡は電子ビームを試料にあてて、最大100万倍の倍率*1)で観測することができます。
用途例：電子部品の表面観察、機械部品等の表面観察
使用機器：日本電子電子顕微鏡
*1) 試料や条件によります。
エネルギー分散型X線分光法（SEM)による太陽電池表面組成分析
EDXは、電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。
用途例： 異物の組成分析、面分析によるマイグレーションの可視化、層構造の同定
使用機器：日本電子電子顕微鏡 EDX
電子部品の静電気障害(ESD)分析
電気デバイス上の生じた静電気障害を分析した例です。なぜ静電気障害が生じるかを現場からの視点で分析を行っています。
用途例：電子機器の静電気障害分析